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ZT系列高低溫冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱主要用于測試材料對極高溫度或極低溫度的抵抗能力，類似于不連續(xù)處于高溫或低溫的情況。冷熱沖擊試驗(yàn)可以使各種物品在短時間內(nèi)完成試驗(yàn)。熱震中引起的變化或物理傷害是由熱脹冷縮或其他物理值的變化引起的。只有采用PID系統(tǒng)，各種產(chǎn)品才能全可信。熱沖擊的影響包括開裂、斷層、成品位移引起的電化學(xué)變化，PID系統(tǒng)全位自動控制，讓您的操作變得簡單。

冷熱溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)必備的檢測設(shè)備。用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，以及其在極高溫度和極低溫度的連續(xù)環(huán)境下能瞬間耐受的程度，從而在短時間內(nèi)檢測樣品熱脹冷縮引起的化學(xué)變化或物理損傷。它們分為兩廂型和兩廂型。區(qū)別在于不同的測試方法和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。產(chǎn)品符合GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198和GJB360A-96方法107的標(biāo)準(zhǔn)。

滿足的試驗(yàn)方法:GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)，符合MIL、IEC和JIS規(guī)范。

目的:高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于電子電氣元器件、自動化零部件、通信元器件、汽車零部件、金屬、化工材料、塑料等行業(yè)，國防工業(yè)、航空航天、軍工、BGA、PCB基板、電子芯片ic、半導(dǎo)體陶瓷和高分子材料。它可以測試其材料對高低溫的反復(fù)拉力以及產(chǎn)品在熱脹冷縮過程中的化學(xué)變化或物理損傷，從而確認(rèn)產(chǎn)品質(zhì)量。



冷熱沖擊箱符合標(biāo)準(zhǔn):
1.GB-2423.1-89(IEC68-2-1)試驗(yàn)一:低溫試驗(yàn)方法。
2.B-2423.2-89(IEC68-2-2)試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法。
3.GJB360.8-87(MIL-STD-202F)高溫壽命試驗(yàn)。
4.GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。
5.GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。
6.國家軍用標(biāo)準(zhǔn)GJB150.3-86。
7.國家軍用標(biāo)準(zhǔn)GJB150.4-86。
8.國家軍用標(biāo)準(zhǔn)GJB150.5-86。

廣泛應(yīng)用于電子電氣元件、自動化元件、通訊元件、汽車零部件、金屬、化工材料、塑料等。
工業(yè)、國防工業(yè)、航空航天、軍工、BGA、PCB基板、電子芯片ic、半導(dǎo)體陶瓷和高分子材料。
物理變化，測試其材料對高低溫的反復(fù)耐受性，以及熱膨脹和冷收縮產(chǎn)生的產(chǎn)品的化學(xué)變化或物理損壞。
可以確認(rèn)產(chǎn)品質(zhì)量，從精密IC到重型機(jī)械零部件，可以作為產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。