恒溫恒濕實驗 恒溫恒濕意圖是為了解產(chǎn)品在所設(shè)定的恒定溫濕度條件下的性能改變，意圖是盡早發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在設(shè)計、材料和工藝等方面的各種缺陷，經(jīng)分析和改進，使產(chǎn)品可靠性逐漸得到增加，終究達到預(yù)訂的設(shè)計水平；為改進產(chǎn)品的戰(zhàn)備完好性、進步任務(wù)成功率、減少修理保證費用供給信息；承認是否符合規(guī)定的溫濕度條件下的定量要求。
恒溫恒濕實驗參閱標準：
GJB150.9 A-2009，GJB 150.9A, IEC 60068-2-7,8；MIL-STD-202等。
高低溫實驗應(yīng)用領(lǐng)域：
1.道路交通類：
道路車輛電子電氣設(shè)備、軌道交通機車車輛設(shè)備與設(shè)備、轎車零部件等
2.計算機類：
電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等
3.電子通信類：
手機、射頻器、電子通信元器件等，PCB、PCBA。
4.電器類：
家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備、儀器儀表、醫(yī)療器械；
5.其他：包裝箱、運輸設(shè)備等。
什么是恒溫恒濕測驗？
恒溫恒濕測驗是對產(chǎn)品進行的一種環(huán)境可靠性測驗。即模仿產(chǎn)品存儲、作業(yè)的溫濕度環(huán)境，檢驗產(chǎn)品在此環(huán)境下一段時間后所遭到的影響是否在可接受的范圍內(nèi)。恒溫恒濕一般為高溫高濕。
產(chǎn)品存儲、作業(yè)的環(huán)境都帶有必定的溫度、濕度，而且有些環(huán)境的溫度、濕度比較高。產(chǎn)品長期處于這種較高的溫濕度環(huán)境下，功用、壽命會遭到必定的影響。所以需求對產(chǎn)品進行恒溫恒濕測驗，以了解產(chǎn)品這方面的功用，假如達不到要求，就需求對產(chǎn)品進行相應(yīng)的改善。
為什么要做恒溫恒濕測驗？
隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電子電工產(chǎn)品的運用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)則產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確的挑選產(chǎn)品的環(huán)境保護措施，才干確保產(chǎn)品在儲存運送中免遭損壞，在運用過程中安全可靠。因而，對電子電工產(chǎn)品進行人工模仿環(huán)境實驗是確保其在出產(chǎn)、運送、運用等各個環(huán)節(jié)中都安全可靠。出廠前對電子電工產(chǎn)品進行人工模仿環(huán)境實驗是確保質(zhì)量所必不可少的重要環(huán)節(jié)，因而環(huán)境實驗條件、實驗辦法、實驗設(shè)備是否符合規(guī)范關(guān)系嚴重。恒溫恒濕實驗作為人工三防的首要實驗之一，其運用越來越廣泛，也遭到越來越多企事業(yè)單位的重視。
恒溫恒濕測驗怎么做？
恒溫恒濕測驗是用帶加熱、制冷、加濕、除濕功用的設(shè)備溫濕度箱，測驗前查看產(chǎn)品的相關(guān)功用、功用等是否正常并拍照，然后將產(chǎn)品放置于溫濕度箱中，開機并設(shè)置溫濕度箱的溫度、濕度及測驗時長。比方70°C，95%濕度，測驗168小時。設(shè)置好后讓溫濕度箱作業(yè)，測驗開始。抵達設(shè)置的完畢時間后，將產(chǎn)品取出，再次查看產(chǎn)品的相關(guān)功用、功用等跟測驗前是否有什么變化，以此判別產(chǎn)品是否滿足具測驗要求。有時候測驗過程中也需求將產(chǎn)品拿出查看，以了解產(chǎn)品在不同測驗時間下的狀態(tài)。假如還沒到預(yù)設(shè)的測驗完結(jié)時間產(chǎn)品所受的影響已經(jīng)超出可接受的范圍，就可以提早停止測驗，尋找計劃解決問題，待產(chǎn)品改善后再從頭測驗。
恒溫恒濕測驗規(guī)范是什么？
恒溫恒濕測驗對具體的測驗溫度、濕度及測驗時長沒有固定的規(guī)范，需求托付方依據(jù)本身狀況或客戶要求自己確定測驗條件。定測驗條件時可參考產(chǎn)品實際的存儲環(huán)境、運送環(huán)境及運用環(huán)境等。常做的溫度是40-80°C，濕度是65%-95%，時長有從十幾個小時到幾百個小時不等。恒溫恒濕測驗也沒有固定的判定規(guī)范，需求托付方依據(jù)本身狀況或客戶要求自己確定。一般都是針對測驗后產(chǎn)品外觀、功用、功用受影響的程度。
恒溫恒濕測驗分恒溫恒濕存儲和恒溫恒濕運行。恒溫恒濕存儲是在產(chǎn)品非作業(yè)狀態(tài)下進行測驗。恒溫恒濕運行是針對電子產(chǎn)品在產(chǎn)品通電作業(yè)狀態(tài)下進行的測驗。
